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日立荧光分布成像系统EEM View
- 产品名称：日立荧光分布成像系统EEM View
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- 产品厂商：日立
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简单介绍
格雷弗工业装备（苏州）有限公司—原厂货源，售后完备，阳光采购，送货上门。作为荧光分光光度计的配件系统，这是全球开创将相机与荧光分光光度计的上乘结合，融合了智能算法的先进技术。能够同时获取样品图像和光谱信息。
日立荧光分布成像系统EEM View
的详细介绍格雷弗工业装备（苏州）有限公司，专业销售分析检测仪器，产品种类齐全，有竞争力的产品价格，了解和满足客户需要是我们一切工作的出发点。
一、荧光分布成像系统（EEM View）简介
作为荧光分光光度计的配件系统，这是全球开创将相机与荧光分光光度计的上乘结合，融合了智能算法的先进技术。能够同时获取样品图像和光谱信息。
新型荧光分布成像系统可安装到日立F-7000/71000荧光分光光度计的样品仓内。入射光经过积分球漫反射后均匀照射到样品，利用荧光光度计标配的荧光检测器可以获得样品荧光光谱，积分球下方的CMOS相机可获得样品图像，并利用独特的AI光谱图像处理算法，可以同时得到反射和荧光成分图像。
二、 荧光分布成像系统特点：
1. 可以全方面测定样品的光谱数据（反射光、荧光特性）
在不同光源条件下（白光和单色光）拍摄样品图像，（区域：Φ20mm、空间分辨率：0.1 mm左右、波长范围：360-700nm），同时利用先进的光谱算法，分别显示荧光图像和反射图像, 根据图像可获得不同区域的光谱信息（荧光光谱、反射光谱）
2. 样品安装简单，适用于各种样品测试
样品只需摆放到积分球上，安装十分简单！
丰富的样品支架
支持精准测量的校正工具
荧光分布成像系统是一种全新的技术，将它配置到荧光分光光度计中，改变了常规荧光光度计只能获得样品表面区域平均化信息的现状，可以查看样品图像任意区域的光谱信息，十分适合涂料、材料、油墨、LED、化工等领域。
如需了解更多 请致电格雷弗工业装备（苏州）有限公司
电话：189-6214-2360
联系人：蒋经理