荧光光谱分析仪Flex One

格雷弗工业装备（苏州）有限公司，专业销售分析检测仪器，产品种类齐全，有竞争力的产品价格，了解和满足客户需要是我们一切工作的出发点。

荧光光谱分析仪Flex One性能特点：

● 一体化的光学调校

——整机设计，结构稳固，光路稳定，确保高效性和易用性

● 简单易用的双样品光路设计

——可随意在水平和垂直光路上进行切

换，适用于各种常见的样品夹具

● 超宽光谱范围**

——200nm-2500nm

● 视频监视光路 

——通过监视器，查找微米级样品，可供精准调整，定位测试样品点
● 多种激发波长可选**
——266nm，325nm，405nm，442nm，473nm，532nm，633nm，785nm等

● 自动mapping功能可选*
——50mm×50mm标准测量区间，可定制特殊规格，步进精度1μm

特殊规格

● 电致发光(EL)功能可选*
——扩展选项

● 显微拉曼光谱测量功能可选*

——扩展选项

● 超低温测量附件可选*

——可配置多种低温样品台

*选配项，请详细咨询； **需根据实际需要进行配置确定

荧光光谱分析仪Flex One产品简介：
    光致发光(photoluminescence) 即PL，是用紫外、可见或红外辐射激发发光材料而产生的发光，在半导体材料的发光特性测量应用中通常是用激光（波长如325nm、532nm、785nm 等）激发材料（如GaN、ZnO、GaAs 等）产生荧光，通过对其荧光光谱（即PL 谱）的测量，分析该材料的光学特性，如禁带宽度等。光致发光可以提供有关材料的结构、成分及环境原子排列的信息，是一种非破坏性的、高灵敏度的分析方法，因而在物理学、材料科学、化学及分子生物学等相关领域被广泛应用。

    传统的显微光致发光光谱仪都是采用标准的显微镜与荧光光谱仪的结合，但是传统的显微镜在材料的PL 谱测量中，存在很大的局限性，比如无法灵活的选择实验所需的激光器（特别对于UV 波段的激光器，没有足够适用的配件），无法方便的与超低温制冷机配合使用，采用光纤作为光收集装置时耦合效率太低等等问题，都是采用标准显微镜难以回避的问题。

荧光光谱分析仪Flex One系统组成
● 激发光源部分：紫外-近红外波段各种波长激光器
● 显微光路部分：优化设计的专用型显微光路
● 光谱采集部分：影像校正光谱和高灵敏型科学级CCD或单点探测器和数据采集器
● 样品台支架部分：xyz三维可调样品台（手动或自动）、超低温样品台

荧光光谱分析仪Flex One参数规格表：

如需了解更多    请致电格雷弗工业装备（苏州）有限公司

电话：189-6214-2360

联系人：蒋经理